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光电耦合器好坏的检测方法

更新时间:2019/6/14 11:25:00    阅读:979    分享此文章:
判断光电耦合器的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。

1、比较法 拆下怀疑有问题的光耦,用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值,用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较,若阻值相差较大,则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法 下面以PC111光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法,检测电路如图1所示。

 

检测时将光耦内接二极管的+端1脚和-端2脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内,此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管C极5脚接指针式万用表的黑表笔,e极4脚接红表笔,并将指针式万用表拨在RX1K挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化,来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法 仍以PC111光电耦合器的检测为例,检测电路如图2所示。

 

将万用表置于RX1K电阻挡,两表笔分别接在光耦的输出端4、5脚;然后用一节1.5V的电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端接PC111的1脚,负极端碰接2脚,或者正极端碰接1脚,负极端接2脚,这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动,说明光耦是好的,如果不摆动,则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大,表明光电转换灵敏度越高。

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